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기록
缺陷图像生成方法、装置、电子设备及存储介质
발명알 수 없음
10청구항 · 4 독립항
§ Ⅰ
개요
IPC 분류
G06T 11/60 (2026.01)G06T 7/00 (2017.01)G06V 10/774 (2022.01)G06V 10/46 (2022.01)G06V 10/82 (2022.01)G06N 3/045 (2023.01)G06N 3/0464 (2023.01)
本申请涉及机器视觉的技术领域,尤其涉及一种缺陷图像生成方法、装置、电子设备及存储介质。所述方法包括:获取原始目标图像,基于预设截取区域对原始目标图像进行图像截取,得到原始局部图像;基于预设掩码区域对原始局部图像进行掩码处理,得到掩码局部图像;将预设目标缺陷及掩码局部图像输入预设的缺陷生成模型,在掩码局部图像中的预设掩码区域生成预设目标缺陷,得到缺陷局部图像;基于预设截取区域融合缺陷局部图像及原始目标图像,得到目标缺陷图像。本申请可以适配高分辨率图像场景的训练数据扩充需求。
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