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기록
焊接缺陷检测系统、方法、装置、电子设备、介质及产品
발명알 수 없음
17청구항 · 6 독립항
§ Ⅰ
개요
출원인
小米科技(武汉)有限公司; 小米智能家电(武汉)有限公司; 小米智能电器(武汉)有限公司
발명자
徐鹰; 余雪晴; 李天昱; 江武明; 许多
출원일
Aug 20, 2026
공개일
Oct 27, 2026
IPC 분류
G06V 20/64 (2022.01)G06V 10/764 (2022.01)G06V 10/10 (2022.01)G06T 7/00 (2017.01)
本公开是关于一种焊接缺陷检测系统、方法、装置、电子设备、介质及产品,涉及智能制造技术领域。该方法包括:响应于待检产品达到目标检测区域,控制多个图像采集设备进行图像采集操作,得到待检产品的多个不同视角的待检图像;根据多个不同视角的待检图像和相机参数,构建待检产品的待检三维模型;根据待检三维模型和标准三维模型进行缺陷检测判断,得到缺陷检测结果。本公开能达到提高焊接缺陷的检测准确率的技术效果。
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