闪存装置及其测试方法

本发明提供一种闪存装置及其测试方法。所述测试方法包括下列步骤：对迷你阵列、测试存储单元及主阵列进行抹除操作；针对迷你阵列、测试存储单元及主阵列量取各自的漏极电流与栅极电压的关系，以记录分别对应于主阵列、测试存储单元及迷你阵列的第一电流电压曲线、第二电流电压曲线以及第三电流电压曲线；分析第二电流电压曲线及第三电流电压曲线，以取得目标中间电压点；分析第一电流电压曲线，以取得左范围长度；分析第三电流电压曲线，以取得右范围长度；以及根据目标中间电压点、左范围长度及右范围长度，绘制阈值电压分布。