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기록

半导体器件的制作方法及半导体器件

발명알 수 없음
10청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

蒋文娟; 李千诚; 吴爱春; 王旭; 丁超; 陈野

출원일

Apr 18, 2025

공개일

Oct 27, 2026

IPC 분류

H10W 10/00 (2026.01)H10W 10/17 (2026.01)H10W 74/10 (2026.01)H10D 84/85 (2025.01)H10D 84/83 (2025.01)

本申请公开了一种半导体器件的制作方法及半导体器件,属于半导体技术领域。该半导体器件的制作方法包括:提供衬底,所述衬底包括有源区,所述衬底中设有围绕所述有源区设置的隔离沟槽;对所述隔离沟槽和所述有源区之间的界面进行自对准化学键合,形成覆盖所述界面的自对准化学键合层;在所述有源区形成器件结构。本申请能够提高器件的阈值电压的均匀性和稳定性,从而提高器件良率和可靠性。

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