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기록
数字隔离器膜层结构及其制作方法
발명알 수 없음
5청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
赵志; 姚道州; 郭海亮; 张称; 侯冰霞; 袁巍; 汪健; 丁佳; 王玉新
출원일
Jun 24, 2026
공개일
Oct 27, 2026
IPC 분류
H10W 20/45 (2026.01)H10W 20/47 (2026.01)H10W 20/48 (2026.01)H10W 20/00 (2026.01)
本发明公开了一种数字隔离器膜层结构及其制作方法,所述数字隔离器膜层结构,包括自下而上依次设置的UTM Cu层、SION层、SIN层,还包括:聚合物缓冲分散层,其形成在SIN层的顶部,其用于减少聚合物聚集,避免SIN层直接接触刻蚀环境与铜层,阻止螯合物CuxNyFz的生成。本发明在SIN层顶部增设聚合物缓冲分散层,刻蚀时先刻蚀聚合物缓冲分散层,聚合物缓冲分散层可缓冲并分散SIN层刻蚀过程中产生的聚合物,减少聚合物聚集;同时避免SIN层直接接触刻蚀环境与铜层,阻止螯合物CuxNyFz的生成,无需额外湿法清洗即可避免缺陷产生。