CNIPA.AI
검색으로 돌아가기
기록

GRAPHIC OVERLAY FOR SAMPLE CAMERA IN X-RAY MICROSCOPE

발명심사 중
2조회수
§ Ⅰ

개요

출원인

Carl Zeiss X-Ray Microscopy, Inc.

원래 이름 기록: Carl Zeiss X-Ray Microscopy, Inc. · 전체 특허 보기특허 출원인 기록

발명자

CHANG, Hauyee; KOTWAL, Naomi; TAN, Meow

출원일

Feb 25, 2024

공개일

Jan 6, 2026

IPC 분류

G01N

CPC 분류

G01NG01N2223/306G01N2223/422G06FG02BG06F

외부 자료

Google PatentsEspacenet