검색으로 돌아가기
기록
METHOD AND SYSTEM FOR GUIDED PARAMETER SELECTION IN X-RAY MICROSCOPE
발명심사 중
§ Ⅰ
개요
출원인
Carl Zeiss X-Ray Microscopy, Inc.
발명자
CHANG, Hauyee; KOTWAL, Naomi; HANLON, Justin; TAN, Meow; WHITE, Robin; SMYTH, Brian; KRAMPERT, Gerhard; DUTSCHKE, Anke
출원일
Feb 25, 2024
공개일
Jan 6, 2026
IPC 분류
G01NG06F
CPC 분류
G01NG06FG06F