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기록
INSPECTION DEVICE FOR FOREIGN MATTER AND PARTICLE AGGREGATES, AND INSPECTION METHOD
발명심사 중
2조회수
§ Ⅰ
개요
발명자
SUGIYAMA, Kiyotaka
출원일
Mar 1, 2023
공개일
Jan 6, 2026
IPC 분류
C12M
CPC 분류
C12M
발명자
SUGIYAMA, Kiyotaka
출원일
Mar 1, 2023
공개일
Jan 6, 2026
IPC 분류
CPC 분류