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기록
AUTOMATIC TEST SPECIMEN MEASUREMENT APPARATUS AND MATERIAL TESTING SYSTEMS HAVING AUTOMATIC TEST SPECIMEN MEASUREMENT APPARATUS
발명심사 중
5조회수
§ Ⅰ
개요
발명자
CARNAZZA, Daniel James; FRANCIS, Hekmat
출원일
Jun 12, 2025
공개일
Jan 6, 2026
IPC 분류
G01BG01B
CPC 분류
G01BG01BG01B2210/42G01NG01N2203/0206G01N2203/0252G01N2203/0405G01N2203/0447G01N2203/0682