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CONTOUR SHAPE MEASURING DEVICE AND METHOD

발명심사 중
2조회수
§ Ⅰ

개요

발명자

FURUTA, Yohei; YONEDA, Nao; NISHIDA, Hiroto; MORIMOTO, Tsutomu; SHIMPO, Hideki

출원일

Apr 1, 2024

공개일

Jan 6, 2026

IPC 분류

G01BG01BH01L

CPC 분류

G01BH01LG01B