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TEMPERATURE PROFILING CIRCUIT AND METHOD FOR DETERMINING A TEMPERATURE PROFILE

발명심사 중

3조회수

§ Ⅰ

개요

출원인

NXP USA, Inc.

발명자

Ryabchenkov,, Sergey Sergeevich; Kandah,, Ibrahim Shihadeh; Storez,, Antoine

출원일

Jul 4, 2024

공개일

Jan 6, 2026

IPC 분류

G01KG01KG01KG01KG01KG01R

CPC 분류

G01KG01KG01KG01KG01K

외부 자료