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案件記録
一种基于双光栅LVDT位移传感器的性能测试装置
発明有効
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§ Ⅰ
案件概要
発明者
杨煜兵; 张春光; 刘嘉瑞; 彭春文; 刘佳慧; 武晔; 彭翰
IPC分類
G01B 7/02 (2006.01)G01B 11/02 (2006.01)
本申请提供一种基于双光栅LVDT位移传感器的性能测试装置,所述装置包括:支撑座;以及,设置于支撑座上的:伺服电机、联轴器、滚珠丝杆、直线导杆、滑块面板;滑块面板顶部设置有顶座;光栅滑动连接于光栅导轨;LVDT位移传感器,LVDT位移传感器与顶座相抵接;LVDT位移传感器用于获取感应电压数据;光栅用于获取第一脉冲信号以及第二脉冲信号,并基于第一脉冲信号和第二脉冲信号,确定位移数据;测试模块,测试模块被配置为:基于位移数据和感应电压数据,得到LVDT位移传感器的性能参数数据;以解决目前的LVDT位移传感器性能测试系统难以同时满足高速运动测试环境与高精度测量双重需求的问题。
外部リソース