检测均质圆柱体中的块状杂质的方法、装置和CT设备

本发明公开了一种检测均质圆柱体中的块状杂质的方法、装置和CT设备。该方法包括：S102，对所述均质圆柱体作CT旋转扫描，从而获得原始投影P(k,l,r)；S104，将原始投影P(k,l,r)重排为平行投影P(k,l,r)；S106，根据平行投影P(k,l,r)确定所述均质圆柱体的位置C(l,r)；S108，根据所述均质圆柱体的位置C(l,r)，将平行投影P(k,l,r)平移，以使所述均质圆柱体的中心位于同一通道处，从而获得第二平行投影P(x,l,r)；S110，平移第二平行投影P的读数，从而获得第三平行投影其在同一读数相对第二平行投影P具有投影角偏离α；S112，计算第二平行投影P和第三平行投影之差diff；S114，将投影差diff与阈值T比较，判断所述均质圆柱体是否存在块状杂质。本发明的检测均质圆柱体中的块状杂质的方法、装置和CT设备可以自动检查均质圆柱体中的块状杂质状态，效率高、效果好。