一种面包质构特性的无损检测方法、设备及存储介质

本发明公开了一种面包质构特性的无损检测方法、设备及存储介质，属于品质检测技术领域，包括以下步骤：S1、采用X射线计算机断层扫描设备获取面包CT图像并进行图像处理获取形态学参数；S2、采用质构仪测量面包样品的质构特征参数；S3、利用皮尔逊相关分析结合热图分析，进行质构特征参数与形态学参数间的相关分析，构建回归模型；S4、选择与质构特征参数高相关性的形态学参数计算输出面包质构参数。本发明采用上述的一种面包质构特性的无损检测方法、设备及存储介质，解决了质构仪无法在不破坏面包的情况下评价其质构特性以及测试条件存在偏差的问题。