用于支撑受测试装置的设备

提供了一种用于支撑受测试装置DUT的设备。所述设备包含从第一面(204)延伸到外壳(400)的体积中的一组插口(402)。所述设备进一步包含安装在所述外壳(400)内的衬底(500)。所述衬底(500)具有平面表面，所述平面表面具有在所述平面表面上的多个衬底端子(502‑512)。所述多个衬底端子(502‑512)中的每一衬底端子驻留在所述一组插口(402)中的相应插口中。所述设备还进一步包含多个执行器(842)。所述执行器(842)中的每一个朝向所述衬底端子(502‑512)中的相应一个对具有接触指(702‑712)的接触指组合件(700)的导电接触指(844)施加力。所述接触指(702‑712)适于电耦合到所述DUT(720)的相应DUT端子(722‑732)。所述设备包含测试器(1016)，所述测试器被配置成基于通过所述DUT端子(722‑732)传达的信号而测量DUT(720)的操作数据。