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기록
一种MCU多端口状态智能检测电路
발명유효
7청구항 · 1 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
吕向东; 李俊生; 胡庆海; 丁文双
IPC 분류
G01R 19/17 (2006.01)G01R 19/00 (2006.01)G01R 1/30 (2006.01)H02M 3/155 (2006.01)H03K 19/173 (2006.01)H03K 19/20 (2006.01)
本发明公开了一种MCU多端口状态智能检测电路,涉及MCU检测技术领域,包括电源模块,提供稳压,由多端口模块与MCU的端口连接,并由电压检测模块检测端口的电压波动状态,配合异常计数模块和定时模块检测在定时时间内,电压波动次数是否超过三次,并在超过时,由微控制模块控制异常计数模块和定时模块停止工作,并控制多路端口定时切换信号传输通路,以便微控制模块记录电压检测模块检测的MCU的其余端口的电压情况。本发明MCU多端口状态智能检测电路可提高对MCU多端口的电压检测效率,降低检测成本。