CNIPA.AI
검색으로 돌아가기
기록

一种界面态测试方法及可靠性测试方法

발명유효
10청구항 · 5 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

盛况; 张万霆; 王珩宇

IPC 분류

G01R 31/26 (2020.01)G01R 31/52 (2020.01)

一种界面态测试方法及可靠性测试方法,属于功率器件测试技术领域,所述界面态测试方法,包括如下步骤:对待测器件的栅极按时序施加若干簇脉冲电压,获取每一簇脉冲对应的电荷泵电流;根据每一簇脉冲对应的电荷泵电流,获得待测器件的电荷泵曲线;根据待测器件的电荷泵曲线,计算待测器件的界面态分布的平均值。本申请无需在漏‑源极回路施加偏压,通过控制栅极脉冲并测量漏极电流,即可较为准确地提取单个垂直MOSFET器件的界面陷阱信息。