集成电路的测试方法、系统、平台、设备、介质及产品

本申请公开了一种集成电路的测试方法、系统、平台、设备、介质及产品，涉及集成电路设计技术领域，包括：获取回环测试组件、选择组件、第一协议验证组件、目标集成电路在电子系统层级的第一待测模型和选择信息、目标集成电路在寄存器传输层级的第二待测模型和选择信息，以及测试用例。进而，可以基于回环测试组件、第一待测模型、第二待测模型、选择组件，以及第一协议验证组件，搭建目标集成电路的测试系统。在测试过程中，可以基于目标集成电路在电子系统层级和在寄存器传输层级的选择信息、测试用例，以及目标集成电路的测试系统，生成目标集成电路的目标测试结果。这样，可以解决两个层级之间的验证操作较为割裂的问题。