一种电源芯片测试方法及装置

本发明属于芯片测试（晶圆测试）领域，为了解决在电源芯片的测试过程中，通常需要人工连线，由于连线较多，导致作业效率较低，而且经常出现连线错误的问题，本发明提供了一种电源芯片测试方法及装置，该装置包括：连接单元，所述连接单元包括多个测试针，所述测试针与待测晶圆连接；探针单元，所述探针单元包括多个探针，通过探针与连接单元连接；测试电路单元，所述测试电路单元与探针单元的探针连接，用于发出测试信号；处理单元，用于根据所述测试电路单元发出的信号，对待测晶圆进行电压测试。本发明中连接单元直接通过探针单元与测试电路单元连接，不再需要人工连线，提高了作业效率，进而提高了电源芯片测试的效率和准确性。