探针、探针头及芯片测试设备

本申请公开探针、探针头及芯片测试设备。所述探针包括针尾段和插入段，所述插入段笔直，所述插入段用于插入多块导引板内，包括用于与被测物的测试点接触的针尖；所述针尾段包括弹性部，所述弹性部与所述插入段连接，与所述针尖相对。通过设置弹性部，降低了探针在接触初始阶段的力值斜率，很好地解决了探针在接触初始阶段力值迅速上升的问题，从而，缓冲效果好，有利于减小探针偏离理想接触点的问题，此外，插入段笔直，本申请的探针也具有直线型探针的优点，比如，不会制约插针效率，更不会导致无法自动化植针。