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기록
测试电路、测试装置、及测试方法
발명유효
11청구항 · 3 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
副田谦介; 浅田友辅; 上野智大; 伯恩哈德·鲁斯; 亨丽埃特·奥索宁
IPC 분류
G01R 31/3187 (2006.01)G01R 31/3181 (2006.01)G01R 31/319 (2006.01)G01R 31/00 (2006.01)
本发明提供一种测试电路、测试装置、及测试方法,可防止就高速信号而言继电器的端子作为电容而阻碍传递的情况,提高功能测试的精度。测试电路包括:电压供给部,产生输出电压;脉冲产生部,在被测试器件的功能测试中,使用来自所述电压供给部的输出电压来产生脉冲信号并向被测试器件供给;以及测定电路,在被测试器件的电压施加电流测定测试或电流施加电压测定测试中,将供给到被测试器件的电压或电流调整为测试电压或测试电流,使用所述测试电压或所述测试电流进行所述电压施加电流测定测试或所述电流施加电压测定测试,所述测定电路至少连接在所述电压供给部与所述脉冲产生部之间。