CNIPA.AI
검색으로 돌아가기
기록

一种轴端剩磁测量分析方法及系统

발명유효
1조회수
10청구항 · 3 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

李义鸿; 舒克茂; 李山山; 顾红强; 高小强

IPC 분류

G01R 33/12 (2006.01)G01R 33/00 (2006.01)B07C 5/344 (2006.01)

本发明提供一种轴端剩磁测量分析方法及系统,涉及电磁参数测量技术领域,所述方法包括:根据最后一个过零点,确认当前极的有效数据范围,并在该有效数据范围内,提取出当前极的极值,将该极值作为当前极的单极剩磁值;遍历并比较所有极的单极剩磁值,从中确定出最大的单极剩磁值,并将该值作为转子的最终轴端剩磁测量值;将最终轴端剩磁测量值与预设的剩磁标准阈值进行比对,根据比对结果生成相应的合格或不合格判断结论。本发明提升了检测精度、可靠性和实用性。