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기록

用于端口网络参数测试仪的非接触式全反射校准件及校准方法

발명유효
10청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

刘亚静; 韩顺利; 杨耀辉; 王世贞

IPC 분류

G01R 35/00 (2006.01)

本发明公开了用于端口网络参数测试仪的非接触式全反射校准件及校准方法,包括金属板;所述金属板上设有圆柱形平台,所述圆柱形平台上刻蚀有周期型方柱电磁带隙结构,所述周期型方柱电磁带隙结构中间刻蚀有圆柱形全反射结构,所述周期型方柱电磁带隙结构外围设有连接孔,所述金属板最外围设有环形保护面,所述周期型方柱电磁带隙结构上表面、圆柱形全反射结构表面与环形保护面处于同一水平面。本发明利用电磁带隙周期结构替代传统波导法兰金属面,抑制电磁波沿法兰面的横向泄露,提高了测试精度并减小了测试误差。