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기록
基于补盲机制的高分辨率TDC系统及时间间隔测量方法
발명유효
7청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
舒玉访; 石英亮; 李风雨; 刘树峰; 韩竞宇; 陈玉节; 章丽; 曹渊
IPC 분류
G04F 10/00 (2006.01)G06F 15/78 (2006.01)
本发明涉及TDC系统,具体涉及基于补盲机制的高分辨率TDC系统及时间间隔测量方法;第一处理芯片,作为主处理通道,负责对待测模拟信号进行高速粗粒度采样,确定时间间隔所在的盲区位置,提供粗延时测量值,并与第二处理芯片发送的精细时间测量值进行计算,得到高精度的时间间隔测量结果;第二处理芯片,作为辅助处理通道,负责对第一处理芯片确定的盲区进行精密补盲,对待测模拟信号进行细粒度采样,精确测量盲区内高分辨率的精细时间测量值,并发送至第一处理芯片;本发明提供的技术方案能够有效克服现有技术所存在的不具有同时兼顾高分辨率、高数据带宽、高集成度和合理成本的高性能TDC解决方案的缺陷。