一种基于深度学习的OLED偏光片贴合校正方法及系统

本发明涉及现代显示技术领域，公开了一种基于深度学习的OLED偏光片贴合校正方法及系统，所述方法包括：获取初始点阵偏移数据集；根据该数据集计算各区域像素偏移分布密度并结合分区规则生成区域偏移分布图；若存在超阈值区域则提取特征向量并用DBSCAN划分聚集区域，生成偏差聚类结果与分类标签；基于遗传优化算法计算贴合路径初步规划参数并生成初始路径方案；实时采集生产数据并处理动态干扰形成动态干扰数据集；对该数据集进行分组误差判定并动态校正初始路径方案生成校正路径方案；根据校正路径方案生成控制指令并动态微调，确定最终贴合路径轨迹。所述方法能够实现对微米级偏差的精确校正。