智能体的缺陷确定方法、装置及电子设备

本申请实施例提供一种智能体的缺陷确定方法、装置及电子设备，涉及计算机技术领域。该方法通过在智能体进行版本更新的情况下，确定智能体的版本变更信息以及历史缺陷信息，历史缺陷信息用于指示智能体处于历史版本时存在的缺陷集合，根据版本变更信息以及历史缺陷信息，配置测试用例生成模型，并基于测试用例生成模型生成智能体的第一测试用例，基于第一测试用例对智能体进行缺陷检测，若检测结果指示智能体存在缺陷，则生成智能体的当前缺陷信息对应的第二测试用例，基于第二测试用例重新对智能体进行缺陷检测，得到智能体的目标缺陷信息。提高了测试效率和覆盖率，增强了智能体的可靠性和质量。