薄膜天线褶皱表征仿真方法、系统、电子设备和存储介质

本发明公开了一种薄膜天线褶皱表征仿真方法、系统、电子设备和存储介质，涉及薄膜天线仿真技术领域，方法包括：建立薄膜天线的有限元模型并进行仿真计算，得到薄膜天线的刚度矩阵；基于刚度矩阵以及有限元模型，对薄膜天线进行线性特征屈曲分析，得到初始应力状态下的前n阶失稳振型；从前n阶失稳振型中选择至少一阶失稳模式，确定选择的每个失稳振型对应的褶皱模式，并确定每个褶皱模式的放大因子，将所选褶皱模式作为初始缺陷引入有限元模型；将确定的褶皱模式、每个褶皱模式的放大因子引入有限元模型，对薄膜天线进行后屈曲分析，模拟薄膜天线失稳后的力学行为，得到褶皱的表征数据。本发明能够为薄膜天线的优化设计提供了精准的量化依据。