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기록
一种芯片验证方法及装置、电子设备、芯片及介质
발명유효
4조회수
17청구항 · 6 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
文枫
IPC 분류
G06F 30/33 (2020.01)G06F 9/38 (2018.01)
本公开提供一种芯片验证方法及装置、电子设备、芯片及介质,涉及芯片技术领域。包括:响应于并行任务执行完成,确定并行任务的并行任务验证结果,并将并行任务的任务包存入第一任务队列,并行任务的任务包包括并行任务对应的串行任务的任务信息;轮询第一任务队列,依次执行第一任务队列存储的任务包对应的串行任务,并确定串行任务的串行任务验证结果;基于并行任务验证结果、串行任务验证结果,确定芯片验证结果。本公开提出的芯片验证方法,通过结合任务队列的“先进先出”的特性,将验证过程融合在任务调度的过程中进行同步验证,验证效率高、复杂度降低;验证方法可进行复用,提高了鲁棒性和复用性和扩展性。