一种电路板缺陷检测方法、系统、计算机设备及存储介质

本发明提供了一种电路板缺陷检测方法、系统、计算机设备及存储介质，属于缺陷检测领域，包括采集待测电路板图像；从待测电路板图像中提取多层轮廓，根据待测电路板中多层轮廓之间的区域覆盖材料与固定参照物的反射系数相对比值确定颜色信息，基于颜色信息为多层轮廓之间的区域着色，得到待测电路板图像的数字孪生模型；根据待测电路板图像的数字孪生模型与预先构建的标准电路板图像的数字孪生模型逐层轮廓比对得到差异图，根据预设阈值对差异图分析，得到待测电路板图像的检测结果。该方法构建的模型不仅包含几何轮廓，还能反映表面的灰度特性，能够同时捕捉几何异常和灰度差异，实现综合缺陷检测，增强了电路板缺陷检测的泛用性和准确性。