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Dossier

兼容式测试gamma和flicker的方法、介质、设备

InventionActive
5Claims · 3 independent
§ Ⅰ

Dossier Overview

Applicant

东莞市德普特电子有限公司

Inventor

仇泽军; 莫辉雄; 孙乐旗; 周芳青; 董海飞; 唐国华

IPC Classification

G09G 3/00 (2006.01)G09G 3/3208 (2016.01)

本发明涉及OLED显示模组测试技术领域,尤其是指兼容式测试gamma和flicker的方法、介质、设备,包括以下步骤:步骤S1、产品上电且扫码;步骤S2、通过治具点亮产品屏幕,治具与镜头通讯;步骤S3、治具根据镜头数据调整gamma;步骤S4、如果gamma灰阶在设定次数内调到不到预设的要求范围,则退出调试,报NG并报警告知操作人员;如果都能调试过,则报OK;步骤S5、治具控制上位机调试JEITA flicker;步骤S6、治具判断调试的flicker值是否满足规格;步骤S7、测试白画面的光学是否合格。本发明能够提升色彩分析仪镜头的利用率,加强产线生产的灵活性,降低生产成本。

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