DRAM总线故障修复方法、设备及系统

本申请公开了一种DRAM总线故障修复方法、设备及系统，涉及DRAM技术领域。方法包括：对DRAM颗粒的各个总线引脚执行驱动电流测试，并获取每个总线引脚对应的第一驱动电流值；若任一总线引脚的驱动电流目标值与第一驱动电流值之差大于第一预设值，则基于对应总线引脚的驱动电流目标值确定对应总线引脚的驱动电流修复参数；将各个总线引脚的驱动电流修复参数写入至DRAM颗粒，以修复DRAM颗粒的各个总线引脚的驱动电流。本申请可以提高DRAM颗粒的总线引脚的驱动电流的修复精度，并实现单个总线引脚的独立修复，可以兼容多种SOC主控的访问协议，优化信号质量。