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기록

一种半导体器件及其制造方法

발명유효
2조회수
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§ Ⅰ

개요

IPC 분류

H10B 63/10 (2023.01)H10N 70/00 (2023.01)H10N 70/20 (2023.01)

一种半导体器件及其制造方法,该方法包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底上形成有层间介电层,所述层间介电层中形成有底部电极;在所述层间介电层及所述底部电极上依次形成刻蚀停止层和牺牲层;图案化所述牺牲层和所述刻蚀停止层,以形成暴露所述底部电极的通孔;形成填充所述通孔并覆盖所述牺牲层的金属层;以所述刻蚀停止层的上表面为抛光终点执行化学机械抛光工艺,以去除所述牺牲层和位于所述刻蚀停止层上方的所述金属层,保留位于所述刻蚀停止层中的金属层以构成加热电极。该制造方法能够准确控制化学机械抛光工艺的终点,从而控制加热电极的厚度。