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案件記録
晶体管制备方法
発明有効
10請求項 · 1 独立
§ Ⅰ
案件概要
発明者
方龑; 孙建; 顾浩
IPC分類
H10D 30/01 (2025.01)H10P 14/692 (2026.01)
本公开提供了一种晶体管制备方法。该方法包括:制作外延层;在外延层上制作第一金属层;采用TEOS作为前驱体,使用PECVD工艺在第一金属层上制作第三氧化硅介质层。
外部リソース
発明者
方龑; 孙建; 顾浩
IPC分類
本公开提供了一种晶体管制备方法。该方法包括:制作外延层;在外延层上制作第一金属层;采用TEOS作为前驱体,使用PECVD工艺在第一金属层上制作第三氧化硅介质层。
外部リソース