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案件記録

高压LDMOS器件及制备工艺

発明有効
10請求項 · 2 独立
§ Ⅰ

案件概要

IPC分類

H10D 30/01 (2025.01)H10D 30/65 (2025.01)H10D 62/00 (2026.01)H10D 62/10 (2025.01)H10D 64/01 (2025.01)H10D 64/20 (2025.01)

本申请提供的一种高压LDMOS器件及制备工艺。该高压LDMOS器件的制备工艺包括提供覆盖有介质层的衬底,衬底内设有第一阱区和第二阱区,第一阱区包括体区和源区,第二阱区包括漏区,第二阱区上方具有场氧;第一阱区上方靠近第二阱区的一侧设有栅氧化层,多晶硅层覆盖栅氧化层且至少部分延伸至场氧的表面;在介质层上一次性形成第一开孔和第二开孔,第一开孔暴露出预设区域的场氧,经第一开孔进行至少两次离子注入,以在第二阱区中形成第一注入层和第二注入层;在第二开孔内形成导电柱用于引出电极。该制备工艺有利于简化工艺,提高生产效率以及降低成本。

外部リソース