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기록
一种硅晶圆片湿法清洗装置
발명유효
7청구항 · 1 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
赵国飞; 王飞; 李伟; 鹏兴鹏
IPC 분류
H10P 70/00 (2026.01)H10P 74/00 (2026.01)
本发明涉及半导体技术领域,具体为一种硅晶圆片湿法清洗装置,包括支撑机构、清洗机构和喷淋机构,支撑机构包括底座、立板、齿圈a和滑轨;立板圆周分布在底座上;齿圈a连接在立板顶端;滑轨与立板连接;清洗机构包括电机a、齿盘、支撑腿、清洗箱、U型板、连接臂、齿圈b、密封部和干燥部;齿盘与滑轨滑动连接;电机a设在底座上并与齿盘传动连接;清洗箱设有多个并连接在齿盘上;U型板设在清洗箱的内部并通过连接臂与齿圈b连接;密封部设在齿圈b的内侧;干燥部设在齿盘上并与清洗箱连接;喷淋机构设于底座上。本发明能够将吸附在晶圆表面的微小固体颗粒污染物“撕扯”下来,保证晶圆清洗的彻底性,促进半导体器件专用设备制造的发展。