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기록

一种异质金属键合工艺质量和可靠性评价方法

발명유효
10청구항 · 1 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

宁永成; 匡潜玮; 姚振寰; 孟猛; 段超; 吴照玺; 丁鸷敏; 程晓冉

IPC 분류

H10P 74/20 (2026.01)

本发明公开了一种异质金属键合工艺质量和可靠性评价方法,包括:制作评价载体;结合产品应用环境,按照“试验前阻抗测试——施加应力——阻抗测试”的步骤进行不同应力下的评价试验,记录不同试验时间点的阻抗测试数据或在线连续采集阻抗数值,进行阻抗数据的拟合,获得键合点质量的退化情况及规律;利用已知的可靠性模型,进行寿命和可靠性预计。本发明制作异质金属键合评价载体,采用累积法——键合点串联的方式放大键合阻抗,通过施加电流、温度应力,监测键合阻抗的变化,综合评价键合质量,并能掌握键合点退化的趋势规律。