分析物水平管理及分析物检测方法、系统、介质及设备

本发明提供了一种分析物水平管理及分析物检测方法、系统、介质及设备，属于光学分析领域，所述方法包括：数据采集步骤：实时采集反映分析物受到光线照射而产生的反射信号或者激发信号在成像区域中不均匀分布的光谱数据；模型分析步骤：将采集到的光谱数据输入分析物检测模型，得到成像区域中分析物的水平，所述分析物的水平包括分析物与光谱数据关联的信息；提醒步骤：在分析物的水平超过预设范围时，展示提醒信息。