用于芯片测序的进样及反应系统及方法

本发明属于芯片诊断技术领域，公开了一种用于芯片测序的进样及反应系统，该进样及反应系统包括供应装置、流道切换装置、拆口装置、抽取装置和反应池；供应装置具有密封的可拆口结构，拆口装置能够相对供应装置活动至打开可拆口结构；供应装置围绕流道切换装置设置，且抽取装置通过流道切换装置与供应装置的底端、反应池连接，流道切换装置能够通过切换自身状态，以使供应装置与抽取装置连通，或使抽取装置与反应池连通。该用于芯片测序的进样及反应系统能够缩短试剂输送时间，以及减少在输送过程中造成试剂死体积的现象，且有效避免输送过程中管路产生气泡导致试剂浪费的问题，提高试剂进样效率。