基于温漂自参考校正的双边带FSI光纤测量系统及方法

本发明公开了一种基于温漂自参考校正的双边带FSI光纤测量系统及方法，用于校正温漂引起的光纤短时放大测量误差和长时光程漂移波动。包括：1）通过MZM产生双边带扫频光信号；2）建立测量干涉仪和自参考干涉仪波分复用光路；3）复用测量光与参考光混频干涉，采集正交干涉信号；4）基于时移Ap‑FFT算法解算两干涉仪对应相位差；5）构建双边带FSI动态测量公式，校正短时温漂放大误差；6）建立长时光纤光程‑温漂模型，推导温漂自校正公式，进行长时光纤温漂自校正。本发明通过仅增加两个光纤耦合器实现复杂主动温控的效果，克服了温控极限带来的测量限制，再显著改善光纤测量精度、稳定性的同时降低了成本开销。