검색으로 돌아가기
기록
光学检测设备
발명유효
10청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ
개요
출원인
纮华电子科技(上海)有限公司
발명자
王伟杰; 郭温良; 高军峰; 林至善
IPC 분류
G01N 21/01 (2006.01)G01N 21/13 (2006.01)G01N 21/88 (2006.01)
本发明公开一种光学检测设备,其包含一料件传送带、一检测传送带、于所述料件传送带及所述检测传送带之间传输多个电子构件的一料件移载机构、位于所述料件移载机构的动作路径下方的一下视觉检测机构及位置对应于所述检测传送带的一复合式检测装置。所述复合式检测装置包含一上视觉检测机构与一环侧面检测机构。当多个所述电子构件位于所述检测传送带且位于所述复合式检测装置的下方时,所述复合式检测装置能相对于所述检测传送带移动,以使所述上视觉检测机构与所述环侧面检测机构能够用以检测多个所述电子构件的上表面与环侧面。由此,利于提升所述光学检测设备的检测效能、并能缩小所述光学检测设备的整体体积。