样品杆机构、透射电镜及透射电镜的原位加热测试方法

本申请涉及一种样品杆机构、透射电镜及透射电镜的原位加热测试方法。所述样品杆机构包括：杆本体、芯片、导电承载件及供电组件，所述芯片承载于所述杆本体，所述芯片包括基板、第一电极及第二电极，所述第一电极与所述第二电极承载于所述基板且间隔设置；所述导电承载件可拆卸安装于所述芯片，所述导电承载件的相对两端分别电连接所述第一电极与所述第二电极，用于承载待检测样品；所述供电组件分别电连接所述第一电极与所述第二电极，用于对所述第一电极及所述第二电极加载电压。