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기록
治具模块与电路板测试方法
발명유효
14청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
卢勇竣; 王则闵
IPC 분류
G01R 31/28 (2006.01)G01R 1/04 (2006.01)G01R 1/073 (2006.01)
一种治具模块与电路板测试方法。治具模块包括一导引治具;导引治具沿一行程方向设置于一机构件内部,机构件内部设有一电路板;导引治具包括平台、第一对位结构以及第二对位结构;平台具有一顶部与一底部,平台包括贯通顶部及底部的多个贯孔;第一对位结构与第二对位结构分别设置于平台的顶部与底部;当导引治具设置于机构件内部时,第一对位结构与机构件沿一第一方向与一第二方向进行对位,第二对位结构与电路板沿一第三方向进行对位,使多个贯孔对准电路板上的多个测试点;第一方向、第二方向及第三方向彼此不同。藉由本发明的治具模块与电路板测试方法,电路板即使置于机构件内部也能够达到与探针组件进行电性测试的目的。