一种集成电路测试自动报警方法及系统

本申请公开了一种集成电路测试自动报警方法及系统，本申请属于计算机技术领域。该方法包括：采集集成电路测试过程中的多维度数据；其中，所述多维度数据包括测试资源数据、环境干扰数据以及芯片测试数据；将所述多维度数据输入至预先构建的融合算法，得到测试期望值；在待测芯片的表现数据不满足所述测试期望值的情况下，生成报警提示信息。本技术方案，通过采集测试资源数据、环境干扰数据及芯片测试数据等多维度数据，输入预先构建的融合算法得到测试期望值，并在待测芯片表现数据不满足该期望值时生成报警提示信息，可以实现提升报警准确性、增强方法通用性、有效捕捉潜在风险，从而保障芯片测试质量与效率的技术效果。