一种单颗二极管芯片批量测试方法及其测试夹具

一种单颗二极管芯片批量测试方法及其测试夹具，属于二极管芯片测试技术领域。包括：根据二极管芯片的结构，将测试电极分为上电极和下电极，在上电极上设置与芯片电极焊盘对应的电极触点阵列，用于与芯片焊盘进行电连接；测试探针与上电极连接，再通过电极触点与芯片电极连接，不与芯片电极直接接触；根据不同芯片的测试需求，设置适配多种不同尺寸芯片的下电极定位框及电极定位框；将所需要测试的芯片逐个放置在合适大小的下电极定位框内，与芯片的一端接触贴合；一次性实现多个单颗二极管芯片的正负极与测试设备的连接。解决了现有技术测试效率低、测试精度差、难以满足芯片的精确连接和批量测试需求的问题。广泛应用于二极管芯片的批量测试技术中。