测试方法、装置、电子设备以及存储介质

本公开提供了测试方法、装置、存储介质、电子设备及程序产品，涉及芯片研发领域，尤其涉及芯片测试以及算子更新技术领域。具体实现方案为：基于待研发芯片的芯片参数，在用于仿真待研发芯片的模拟器上配置用于运行第一算子的运行环境，得到第一模拟芯片；基于参考硬件的硬件参数，在参考硬件上配置用于运行第二算子的运行环境，得到参考芯片；确定第一测试结果和参考结果；以及基于第一测试结果和参考结果，对待研发芯片进行测试评估，确定待研发芯片的测试评估结果。