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기록
一种电路板电性能测试装置
발명유효
10청구항 · 1 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
杨淼文; 潘实梅; 唐青山; 李康
IPC 분류
G01R 31/28 (2006.01)G01R 27/02 (2006.01)B07C 5/344 (2006.01)B07C 5/38 (2006.01)
本申请提出一种电路板电性能测试装置,包括:送料机构,用于输送电路板;推料机构,配置有第一工位和第二工位,第一工位与送料机构的输出端对接,以承接来自送料机构的电路板,推料机构用于将位于第一工位的电路板移送至第二工位;测试机构,设置于推料机构一侧,测试机构上至少设有两个测试接触部,且各测试接触部能够朝向第二工位独立运动,以在测试接触部与位于第二工位的电路板相接触时,对电路板执行电性能测试;以及储料机构,设置于推料机构的下方,用于对完成电性能测试的电路板进行分类储存;以解决现有电子测试装置缺乏完整的测试工序,以及无法一次性对引脚触点位于不同侧面的电路板进行全面电性能测试的技术问题,形成完整测试工序。