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光学模组及具有其的半导体晶圆缺陷检测设备

发明专利有效
9权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

袁智超; 沈雅楠; 李建权

IPC 分类

G02B 13/00 (2006.01)G03F 7/20 (2006.01)

本申请公开了一种光学模组及具有其的半导体晶圆缺陷检测设备,涉及晶圆检测技术领域。该光学模组包括沿物侧至像侧方向依次分布的第一透镜、第二透镜、第三透镜、第四透镜和第五透镜,第一透镜和第二透镜胶合,第三透镜和第四透镜胶合,第一透镜的物侧方向设有孔径光阑;第一透镜为具有正光焦度的双凸透镜,第二透镜为具有负光焦度的弯月透镜,第三透镜为具有正光焦度的双凸透镜,第四透镜为具有负光焦度的双凹透镜,第五透镜为具有负光焦度的弯月透镜。采用本申请光学模组,能够具有40mm大视场,便于后续观察检测,并且像质良好。