内存自检方法、装置及电子设备

本申请涉及一种内存自检方法、装置及电子设备。该方法包括：响应针对内存下发的自检使能指令，确定目标自检模式；若目标自检模式包括伪随机自检模式，则针对内存的目标地址空间进行多轮随机自检；每轮随机自检包括：生成随机写地址、随机写长度和随机写数据，基于随机写地址和随机写长度，将随机写数据写入至内存；生成随机读地址和随机读长度，基于随机读地址和随机读长度从内存读取第一数据；随机读地址与随机写地址对应相同特征多项式及种子，随机读长度与随机写长度对应相同特征多项式及种子；将随机写数据与第一数据进行数据比较，得到本轮的随机自检结果。该方法能提高自检效果，减少误码问题。