分析高风险测试用例方法、系统、电子设备及存储介质

本申请公开一种分析高风险测试用例方法、系统、电子设备及存储介质，涉及风险测试领域，包括：步骤1，获取已量产车辆的历史缺陷列表；根据历史缺陷列表，提取对应的模块信息，并进行缺陷数量统计分析，收集缺陷特征信息；步骤2，执行新车型的冒烟测试用例，并进行周边功能点检，获得新车型的测试结果；其中，测试结果包括，已执行失败用例特征；步骤3，基于缺陷特征和已执行失败用例特征，分析新车型的高风险测试用例，并获取最小测试集；步骤4，执行步骤3中获取的最小测试集，更新测试结果，并提报新发现的缺陷；步骤5，将步骤4中提报的新发现缺陷，加入所述历史缺陷列表；返回步骤3循环，继续执行步骤3、4，直至测试结束。