一种RAID控制器芯片测试用例的生成方法

本申请公开了一种RAID控制器芯片测试用例的生成方法，涉及芯片测试技术领域，包括获取RAID控制器芯片的多维度性能特征；将多维度性能特征输入至预训练的预测模型中进行推理，得到预测模型输出的目标测试用例特征值；将目标测试用例特征值导入至测试用例模板，以生成RAID控制器芯片对应的测试用例，由于借助模型训练技术快速生成测试用例，无需手动编写和调整测试用例，因此，可以解决传统RAID控制器芯片的验证方法中手动编写和调整测试用例耗费大量时间和精力的技术问题，达到缩短对RAID控制器芯片的验证周期技术效果。